제품 모델:SN74AHC1G125DBVR
- 날짜: 3월3일
- 지속: 10 초월
- 동영상 크기: 6.87 MB
- 비디오 스크린 샷
제조업체 부품 번호 : | SN74ABT18646PM |
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RoHS 상태 : | 무연 / RoHS 준수 |
제조업체 / 브랜드 : | Luminary Micro / Texas Instruments |
재고 상태 : | 384 pcs Stock |
기술 : | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
에서 운송된다 : | 홍콩 |
사양서 : | |
선적 방법 : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
부품 번호 | SN74ABT18646PM |
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제조사 | |
기술 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 |
사용 가능한 양 | 384 pcs |
사양서 | |
전원 전압 | 4.5 V ~ 5.5 V |
제조업체 장치 패키지 | 64-LQFP (10x10) |
연속 | 74ABT |
포장 | Tray |
패키지 / 케이스 | 64-LQFP |
다른 이름들 | 296-3943 SN74ABT18646PMG4 SN74ABT18646PMG4-ND |
작동 온도 | -40°C ~ 85°C |
비트 수 | 18 |
실장 형 | Surface Mount |
수분 민감도 (MSL) | 3 (168 Hours) |
제조업체 표준 리드 타임 | 6 Weeks |
논리 형 | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | Lead free / RoHS Compliant |
상세 설명 | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
기본 부품 번호 | 74ABT18646 |
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SSOP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC
IC BUFFER INVERT 5.5V 20DIP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC